介损测试异常原因的分析与处理  

作　　者：胡月威 方潮洋 罗军 李旭光 

机构地区：[1]浙江省送变电工程公司,浙江 杭州 310016

出　　处：《中国科技期刊数据库 工业B》2015年第4期00238-00239,共2页

摘　　要：通过对电容套管介质损耗试验,我们能够有效地发现因电容套管制造工艺不良或者末屏断裂而引起的内部局部放电缺陷,及早地避免因绝缘缺陷而引发的套管爆炸事故,介质损耗试验中通常会遇到电容量Cx及介质损值tgδ的异常变化,本文中,作者就一例油纸电容式套管现场测试中遇到tanδ负值的现象,来进行简单的阐述,分析引起测试数据异常的原因,并提出对预防及处理这类异常情况的建议。

关 键 词：油纸电容式套管 介质损耗测试 负值 

分 类 号：TM934.3[电气工程—电力电子与电力传动]