数字集成电路测试方法研究  

作　　者：张瑞华[1] 张小彦 

机构地区：[1]郑州电子信息职业技术学院,河南中牟451450

出　　处：《中文科技期刊数据库（全文版）工程技术》2016年第12期266-266,共1页

摘　　要：数字集成电路规模发展迅速, 现有集成电路测试方法无法满足实际测试需求。在此研究背景下,本文探讨了了数字集成电路测试序列的生成方法,并阐述了目前常见的序列压缩方法,在此基础上提出,数字集成电路测试方法当前发展背景下,科学、合适、经济的测试方法亟待被研究。

关 键 词：数字 集成电路 测试 

分 类 号：TN431.2[电子电信—微电子学与固体电子学]