嵌入式硬件测试平台及其硬件识别系统的设计与实现  

作　　者：杨慧敏 雷源春[2] 

机构地区：[1]广州大学纺织服装学院,广东 广州 510550 [2]广州科技职业技术学院,广东 广州 510550

出　　处：《中国科技期刊数据库 科研》2016年第12期00037-00039,共3页

摘　　要：本文分析了嵌入式测试系统的技术特点和国内外研究的现状,总结对比各类文献关于计算机硬件测试的技术方法后,指出了目前嵌入式测试平台所存在的测试自动化程度不足、硬件测试兼容性较低的问题,并针对问题给出了建立硬件识别系统、硬件测试系统以及上位机控制系统的解决方法。同时研究了一种使用独立控制器的硬件识别系统,探讨了测试平台对硬件识别的要求和实现硬件自动识别的关键技术,提出了一种嵌入式硬件识别系统,并对其技术方案并进行了研究,包括电路框架、扫描及反馈策略、识别逻辑流程、识别控制指令、硬件ID编码。并以识别控制器为核心,构建了硬件识别系统的电路,并为电路进行了逻辑仿真,验证了硬件识别系统的有效性。

关 键 词：嵌入式系统 测试平台 硬件识别 识别控制器 ID编码 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]