基于边界扫描技术的电路板可测试性设计要求  

作　　者：段知晓喻波 

机构地区：[1]洛阳电光设备研究所,河南 洛阳 471000

出　　处：《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》2017年第4期00236-00236,共1页

摘　　要：随着集成电路的快速发展,使得测试面临的问题也越来越多,在众多的测试技术中边界扫描测试越来越多的受到人们的关注。本文对边界扫描技术的基本概念和发展趋势进行了介绍和总结,重点对边界扫描技术的电路板可测试性设计要求进行了详细论述。

关 键 词：边界扫描技术 测试性 

分 类 号：TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]