一种基于相干采样原理的高速A/D转换器单粒子试验技术  

作　　者：谭华勇 左弟俊 

机构地区：[1]中国电子科技集团第二十四研究所,重庆400060 [2]中国电子科技集团第四十四研究所,重庆400060

出　　处：《电子乐园》2019年第31期53-56,共4页

摘　　要：针对高速 A/D 转换器单粒子试验监控要求,提出了一种基于相干采样扩展理论的模拟信号激励技术。该技术具备输入信号频率 高,A/D 转换器输出数据跳变缓慢等特点。采用该技术进行单粒子试验测试,即可以较全面评估 A/D 转换器采样保持电路和数字量化电路 的全工作频率和输入电压条件下的性能特性,也可以降低后端数据采集系统进行瞬态、翻转现象判断的处理压力,且具有较强的可操作性。

关 键 词：A/D转换器 单粒子试验 模拟输入 相干采样 

分 类 号：C[社会学]