检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:倪友福
机构地区:[1]常州市和普电子科技有限公司
出 处:《区域治理》2020年第39期195-195,共1页REGIONAL GOVENANCE
摘 要:随着时代的进步,集成电路生产企业快速发展,测试技术发展面临新的要求,集成电路制造中集成电路测试是一项关键技术。所以,深入研究集成电路测试技术与设备具有非常重要的意义。基于此,本文从以下几方面简单分析了集成电路测试仪控制模块设计相关知识,希望对相关领域研究有所帮助。
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