GIS内部缺陷检测中超高频检测法和DR数字成像技术的应用  

作　　者：罗海生 

机构地区：[1]国家电投集团青海黄河电力技术有限责任公司,青海西宁810000

出　　处：《中文科技期刊数据库（全文版）工程技术》2021年第4期130-130,共1页

摘　　要：由于GIS设备罐体有极好的散热性能,目前采用红外测温仪无法有效检测GIS内部发热或放电缺陷。借助于超高频以及DR数字成像这两类技术,对GIS设备潜伏性缺陷的早期检测有一定的指导意义。本文就此展开了探究。

关 键 词：GIS内部缺陷 超高频检测 DR数字成像技术 

分 类 号：TG115.28[金属学及工艺—物理冶金] TN249[金属学及工艺—金属学]