试论齐纳二极管早期失效对芯片可靠性的影响  

作　　者：邵兴杰 朱伟睿 李世杰 

机构地区：[1]珠海格力电器股份有限公司,广东珠海519070 [2]空调设备及系统运行节能国家重点实验室,广东珠海519070 [3]珠海市运泰利自动化设备有限公司,广东珠海519070

出　　处：《中文科技期刊数据库（全文版）工程技术》2021年第10期554-555,共2页

摘　　要：齐纳二极管广泛运用与多种集成电路产品设计中,一方面其属性为基准电压元件,可以为电路提供精准稳压电源,摆脱时间、负载等客观因素影响;另一方面齐纳二极管的运行稳定性较高,可以满足多种集成电路产品设计需求。本文针对齐纳二极管早期失效的特点进行探究,分析其在温度、时间等影响下出现了早期失效问题,并结合齐纳二极管的特点和产品可靠性要求进行分析,提出了科学使用齐纳二极管的措施建议。

关 键 词：齐纳二极管 早期失效 芯片可靠性 影响 

分 类 号：TN31[电子电信—物理电子学] TN40