OCXO相噪测试系统的设计  

作　　者：赵斌 

机构地区：[1]河北远东通信系统工程有限公司,河北石家庄050200

出　　处：《移动信息》2022年第10期31-33,共3页MOBILE INFORMATION

摘　　要：恒温晶体振荡器(下称 OCXO)被广泛应用于精密仪器、测控通信、雷达侦测、电子对抗和定位导航等领域,相位噪声是 OCXO 性能的关键指标之一,对精密测距、高速目标跟踪及外层空间通信系统意义重大,因此需要对OCXO 进行相噪测试,以保证它的工作性能。由于 OCXO 上电稳定与相噪采样均需要一定的时间,且相噪测试具有严格的隔离度要求,相噪测试严重制约了 OCXO 大规模生产的生产效率。文章将阐述 OCXO 相噪测试系统框架与功能,提出 OCXO 相噪测试系统的具体设计,在该系统的支持下,生产测试人员只需对 OCXO 进行上下料操作,测试过程、数据处理与结果判定实现了自动化,在提高测试效率的同时,降低了生产测试人员的劳动强度。

关 键 词：OCXO 相噪 测试系统 MCU 

分 类 号：TN85[电子电信—信息与通信工程]