军用电子元器件可靠性筛选试验流程创新研究  

作　　者：赵志福 

机构地区：[1]航空工业光电所,河南洛阳471009

出　　处：《中国科技期刊数据库 工业A》2023年第5期151-154,共4页

摘　　要：该论文主要研究军用电子元器件可靠性筛选试验流程的创新和改进。论文指出了军用电子元器件可靠性的重要性和现有筛选试验流程中存在的问题,并提出了研究目的和方法。现有的筛选方式包括100%筛选、dpa、按批次抽检和二次筛选,但存在着种种问题。为了创新和改进筛选试验流程,该论文提出了基于故障模式的筛选试验设计、利用统计分析方法优化试验流程和引入新技术和工具的方案。最后,该论文通过试验结果和分析,对新流程进行了可行性和优越性分析以及筛选试验结果的可靠性分析。该研究为军用电子元器件可靠性筛选试验流程的改进提供了有益的思路和方法,也为该领域的研究提供了一定的参考价值。

关 键 词：军用电子元器件 可靠性 筛选试验 故障模式 统计分析 

分 类 号：TN707[电子电信—电路与系统]