检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:赵志福
出 处:《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》2023年第5期28-31,共4页
摘 要:本研究旨在针对现有军用电子元器件可靠性筛选试验流程中存在的问题,探讨创新和改进方案。通过文献综述和案例分析,分析了现有的100%筛选、dpa和按批次抽检等筛选方式,并发现了其中存在的问题。在此基础上,提出了基于故障模式的筛选试验设计、利用统计分析方法优化试验流程以及引入新技术和工具(如人工智能和大数据分析)等创新和改进方案。在设计和实施试验流程改进方案的过程中,使用了新的方法和工具,如模拟器、计算机模型和数据分析软件等,来提高试验效率和可靠性。经过数据分析和比较,发现,采用新的流程设计和工具,可以显著提高试验效率和可靠性,并降低试验成本和时间。同时,还进行了筛选试验结果的可靠性分析,证明了新流程的可行性和优越性,旨在提高军用电子元器件的可靠性筛选试验效率和可靠性。
关 键 词:军用电子元器件 质量管理 可靠性试验 标准体系 整体解决方案
分 类 号:TB114.3[理学—概率论与数理统计] T652[理学—数学]
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