检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:赵臣龙
出 处:《中文科技期刊数据库(文摘版)工程技术》2024年第1期0191-0194,共4页
摘 要:现代科学技术的进步让电子元器件成为了精密设备的核心,它们如同细胞一般构成了电子设备的基本结构,涵盖通信、医疗等众多领域,极大地丰富了人们的生产与生活方式。每一项科技的跃进都依靠着这些元器件的微小身影,它们让工作的效率倍增,娱乐的方式多元化。因为这些元器件异常精密且高度整合,它们的品质直接决定着最终产品的性能与用户的安全。当产品在使用中出现问题时,往往是由元器件的微小瑕疵所引起。这一点强调了测试这些元器件的重大意义。因此,电子元器件的检测价值不可低估。基于此,本文将首先分析电子元器件检测中的问题,之后提出解决方法。
分 类 号:TN606[电子电信—电路与系统]
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