基于应用验证平台的串行NORFLASH功能测试  

作　　者：刘玏 谢向桅 马成英 李骥尧 闫玉波 

机构地区：[1]北京振兴计量测试研究所,北京100074

出　　处：《中文科技期刊数据库（文摘版）工程技术》2024年第5期0019-0027,共9页

摘　　要：应用验证工作是根据应用需求对器件的功能性能、技术参数、应用环境进行研究,给出相应的综合评价。应用验证工作的开展,依托于应用验证平台的辅助支持,本文中根据串行NOR FLASH存储器的特点,在应用验证平台上采用叠加多存储器算法的方式对一款应用广泛的串行NOR FLASH (25QH128M)进行功能测试。文中介绍了写数据0、写数据1、写棋盘格、写反棋盘格、写行进代码的存储器算法,并同时介绍了在应用验证平台下配置工程文件、编译测试算法以及调试测试程序,最后对未来元器件的应用验证工作提出了展望。

关 键 词：应用验证 应用验证平台 串行NOR FLASH 存储器算法 功能测试 

分 类 号：V19[航空宇航科学与技术—人机与环境工程]