不同来源钴粉内标法对铁矿石中铁元素分析的影响  

作　　者：秦颖[1] 李肖龙 张静[1] 

机构地区：[1]安阳钢铁股份有限公司,河南安阳455000

出　　处：《中国科技期刊数据库 工业A》2024年第12期029-032,共4页

摘　　要：X射线荧光光谱分析法(XRFS)是原级X射线光子或者其他微观粒子激发被检测物质中的原子,使其产生荧光X射线,对物质的化学成分进行定性、定量分析。由于作为内标的钴元素产生的吸收增强效应与铁元素相似,可以有效消除铁元素和其它元素之间的吸收增强效应,但是在不同的化学室,钴粉的来源不同,分析铁矿石的准确度和稳定性也是存在差异的。本文通过实验对比研究不同来源钴内标X射线光谱分析方法在铁矿石检测中的应用,探讨了钴粉颗粒度和均匀性对分析结果的影响,旨在为相关工作提供参考。

关 键 词：钴内标 铁矿石 X射线荧光光谱分析法 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]