缺陷管理的度量  

Metrics for Defect Management

作　　者：余明亮[1] 罗云锋[1] 贲可荣 

机构地区：[1]海军工程大学计算机系,武汉430033

出　　处：《舰船电子工程》2008年第2期115-118,167,共5页Ship Electronic Engineering

基　　金：武器装备预先研究项目(编号51327010401)

摘　　要：描述缺陷数据库的构造方法,总结基于缺陷数据库的Pareto图分析方法以及缺陷过滤矩阵分析方法。缺陷过滤矩阵可以追踪缺陷源,检查缺陷在开发过程中的传播。基于缺陷过滤矩阵,可以分析缺陷移除效率以及其对软件成本的影响,预测潜在软件缺陷和可靠性增长曲线。This paper discribes the construction method, analyses the defect-based database with Pareto chart and defect correlation matrix. Defect correlation matrix is used to track defect origin and check the defect dissemination in development. Based on defect correlation matrix, defect removal effectiveness and its impact to the software cost can be analysed, the latency defect and reliability growth can be predicted.

关 键 词：缺陷管理 缺陷数据库 Pareto图 

分 类 号：TP311.13[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]