一种基于遗传算法的SoC测试调度方法  

An Test Scheduling Method of SoC based on Genetic algorithm

作　　者：雷加[1] 方刚[1] 

机构地区：[1]桂林电子科技大学,桂林541004

出　　处：《仪器仪表学报》2007年第S1期15-17,43,共4页Chinese Journal of Scientific Instrument

基　　金：广西省自然科学基金(0542050)资助项目

摘　　要：文章提出了一种基于遗传算法的SoC测试调度方法,通过该方法可以有效地优化测试总线的划分,合理地调度各个芯核以实现并发测试,能够有效的缩短芯核地测试时间。该算法把测试调度问题的可行解集用种群表示,从初始种群开始,按照适者生存、优胜劣汰的原理,逐代演化产生出越来越好的近似解。文章详细分析了该算法过程,对2002年国际测试会议(ITC′02)所提供的SOC国际基准电路进行测试调度实验,实验结果表明,此算法比传统的整线性规划(ILP)算法的结果要优化。This paper proposes a SoC test scheduling based on genetic algorithm which can efficiently optimize the division of testing bus,reasonably schedule each core to realize parallel test,and efficiently short the test time of core.Representing feasible solution of test scheduling with population,based on "survival of the fittest",and beginning with the initial population,This algorithm evolves by generation to produce approximation solution.Utilizing international reference circuit provided by International Tes...

关 键 词：遗传算法 测试优化 测试调度 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]