解理硅微结构的声子形变潜能  

Phonon Deformation Potentials of Textured Silicon Microstructure

作　　者：陈建军[1] 薛晨阳[1] 张斌珍[1] 张文栋[1] 

机构地区：[1]中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051

出　　处：《中国机械工程》2005年第z1期334-336,共3页China Mechanical Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50405025)

摘　　要：利用Voigt-Reuss-Hill平均方法,对不同生长方向的微纳米材料结构的声子形变潜能进行了计算,得出了硅纳米材料不同生长方向上的声子形变潜能,为硅材料的定向生长提供了较好的参考依据.

关 键 词：Voigt-Reuss-Hill平均 微纳米材料 声子形变潜能 定向生长 硅 

分 类 号：TB383[一般工业技术—材料科学与工程]