P偏振光双表面反射比的角谱及其应用  

P-polarized reflectance ratio angular spectra of surfaces and its application

作　　者：梁培辉[1] 张伟清[1] 叶韧[1] 雷建求[1] 顾铮先[1] 刘小林[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800 上海理工大学,基础部,上海,200093 同济大学,物理系,上海,200331

出　　处：《测试技术学报》2002年第z1期422-426,共5页Journal of Test and Measurement Technology

摘　　要：p-偏振光在镀膜平板基片两面的反射光强度比值的角谱是膜层参数(折射率、消光系数和厚度)的函数.实验表明通过角谱的测量和数值模拟是精确测量薄膜参数的新途径.基于此原理,还试制出掺Sb的SnO2溶胶凝胶薄膜的光化学气敏传感器.

关 键 词：p偏振光 反射比 薄膜参数 气敏传感器 

分 类 号：TB9-55[一般工业技术—计量学]