层析硅胶吸附性能探讨  

作　　者：周素红[1] 邹涛[1] 陈萦[1] 

机构地区：[1]北京市理化分析测试中心,北京100089

出　　处：《有色矿冶》2006年第S1期147-148,共2页Non-Ferrous Mining and Metallurgy

摘　　要：本文对国内外两种柱层层析硅胶进行了吸附-脱附等温线测试,结果表明这两种硅胶的性能差异明显。SiO_2-In(中国产)样品比表面积小,其孔径分布宽,最可几孔径为9.0nm,孔容为0.9 mL/g;而SiO_2-Out(美国产)的比表面积大,孔径分布窄,最可几孔径为2.5 nm,孔容为0.4 mL/g。

关 键 词：二氧化硅 比表面积 孔径分布 

分 类 号：TQ028.15[化学工程]