透射电镜高分辨图像的数字成像质量  

Quality of High Resolution Digital Image in Transmission Electron Microscopy

作　　者：梁超伦[1] 江丹[1] 杜金菊[1] 廖成竹[1] 李雪梅[1] 赵文霞[1] 

机构地区：[1]中山大学,测试中心,广东,广州,510275 中山大学,测试中心,广东,广州,510275 中山大学,测试中心,广东,广州,510275 中山大学,测试中心,广东,广州,510275 中山大学,测试中心,广东,广州,510275 中山大学,测试中心,广东,广州,510275

出　　处：《分析测试学报》2006年第z1期191-192,共2页Journal of Instrumental Analysis

摘　　要：　　入射电子束的相干性和曝光时间是获得高质量透射电镜图像的重要因素,因为其直接影响着图像的分辨率、衬度和信噪比.CCD(charge-coupled device)数字成像系统的灵敏度、线性度、动态范围和量子探测效率DQE(detective quantum efficient)明显优于底板[1],且在图像采集与后处理上更简便,已成为目前透射电镜中最高效的图像记录系统.本文将从这两方面讨论使用CCD获得高质量透射电镜数字图像所需的实验条件.……

分 类 号：O657-55[理学—分析化学]