用GIXD分析PtRu薄膜的物相深度分布  

Study on Phase Depth Distribution of PtRu Thin-film By GIXD

作　　者：杨喜昆[1] 衡根华[1] 

机构地区：[1]昆明理工大学,分析测试研究中心,云南,昆明,650051 昆明理工大学,分析测试研究中心,云南,昆明,650051

出　　处：《分析测试学报》2006年第z1期204-205,共2页Journal of Instrumental Analysis

基　　金：云南省教育厅科学研究基金资助项目(540038A)

摘　　要：　　薄膜材料的物化性能取决于薄膜的组成和结构.PtRu薄膜作为质子交换膜燃料电池的(PEMFCs)催化电极,具有良好的电催化性能.PtRu薄膜的表层结构对其催化性能的影响较大,本文应用掠入射X射线衍射(G1XD)方法分析PtRu薄膜的物相结构随深度的变化.……

分 类 号：O657-55[理学—分析化学]