电路中的ESD保护  

ESD protection in circuit

作　　者：吴昱旻[1] 张金平[1] 张定会[1] 

机构地区：[1]上海理工大学光学与电子信息工程学院,上海200093

出　　处：《仪器仪表学报》2006年第z3期2560-2561,共2页Chinese Journal of Scientific Instrument

摘　　要：静电放电(ESD)常常是导致设备损坏的根源之一。本文详细阐述ESD的来源、造成的危害以及讨论如何测试集成电路的防静电冲击能力,并提供一些抗ESD冲击的应用技术。Electrostatic discharge(ESD)is one common reason of destroying device. This paper particularly explains how ESD comes from , what harm will bring , also how to test the integrated circuit's ability to prevent from the static. At last,some of defending against ESD applied technologies are concerned.

关 键 词：ESD HMB 通用串行总线 电磁兼容性 

分 类 号：TH7-55[机械工程—仪器科学与技术]