正电子湮没技术在高分子薄膜研究中的应用  

Application of positron annihilation technique for thin polymer membranes

作　　者：孙旭东[1] 曾敏峰[1] 鲍高强[1] 郑厚天[1] 刘维民[2] 齐陈泽[1] 

机构地区：[1]绍兴文理学院应用化学研究所,绍兴312000 [2]中科院兰州化物所,兰州730000

出　　处：《膜科学与技术》2006年第6期77-80,87,共5页Membrane Science and Technology

基　　金：浙江省人才培养基金项目(RC01050)

摘　　要：介绍了正电子湮没技术在高分子薄膜研究中的最新进展.常规的正电子湮没技术和慢正电子湮没技术,可以准确地探测高分子薄膜微观缺陷(自由体积)尺寸、分数、浓度、深度分布,该测试技术将在研究各种高分子薄膜的微结构-性能关系、表面效应、界面效应等方面发挥积极的作用.The application of positron annihilation technique in thin polymer membranes has been reviewed.It is effective to determine the size,fraction,concentration and depth distribution of free volume hole in polymer membranes.Thus,it is a powerful method to study the structure-property relationship,surface effect,interface effect for thin polymer membranes.

关 键 词：正电子湮没寿命谱 正电子素 自由体积 高分子膜 

分 类 号：TB383.2[一般工业技术—材料科学与工程]