弛豫铁电体的介电老化行为与钉扎效应  

Domain Pinning and Dielectric Aging of Ferroelectrics

作　　者：樊慧庆[1] 柯善明[1] 刘来君[1] 陈秀丽[1] 

机构地区：[1]西北工业大学材料学院,西安710072

出　　处：《四川大学学报（自然科学版）》2005年第S1期108-111,共4页Journal of Sichuan University(Natural Science Edition)

基　　金：陕西省自然科学基金(2003E103);教育部留学回国人员科研基金(2003CXO401);优秀青年教师资助计划项目(N4CJO403)

摘　　要：通过对典型弛豫铁电体PLZT的介电老化行为研究,发现其介电温度谱中老化温度附近的介电行为与材料结构及缺陷调整存在着有机联系,表明复合钙钛矿弛豫铁电体的结构缺陷特征对其介电老化行为起着重要作用.结合弛豫铁电体老化和退老化介电行为对比分析以及其恒温经时老化行为的研究,揭示出复合钙钛矿弛豫铁电体结构缺陷上的局域化电子和空穴,在内电场作用下,老化一段时间后,产生对称分布,对极化微区产生“钉扎”效应.进而,其介电温度谱中居里温度附近出现的Barkhausen脉冲,则证实了钉扎后的铁电畴壁具有介稳态特征.The aging effect on temperature and time dependence of dielectric permittivity and loss angle tangent were examined for typical relaxor ferroelectric PLZT ceramics. There are close relationship between dielectric behavior and material structure and point defects. It is stressed that the stabilization of ferroelectric domain structure is due to the presence of defects in perovskites. Comparing with dielectric behavior of aged and de-aged ceramics and dielectric property dependence on time, a pin effect was i...

关 键 词：弛豫铁电体 介电老化 PLZT陶瓷 钉扎 

分 类 号：TM221[一般工业技术—材料科学与工程]