检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:宋蕊[1] 顾豪爽[1] 王忠太[1] 陈侃松[1] 章天金[1]
机构地区:[1]湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062 湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062 湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062 湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062 湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062
出 处:《功能材料》2004年第z1期413-414,418,共3页Journal of Functional Materials
基 金:国家自然科学基金资助项目(50272020);教育部科学技术研究重点项目(03084)
摘 要:利用脉冲激光沉积(PLD)方法在MgO(100)基片上生长了SrBi2Nb2O9薄膜.XRD分析表明在MgO基片上生长的薄膜呈(115)单一取向,具有良好的结晶性;XPS数据分析得到薄膜中Sr、Bi和Nb的原子比约为1:2:2.05.利用Z扫描技术对薄膜的三阶非线性光学性质进行了测量,通过开孔(Open-aperture)和小孔(Close-aperture)的测量,计算出三阶非线性光学极化率的实部Rex(3)和虚部Imx(3)分别为4.139×10-7eSu,1.104×10-7eSu.
关 键 词:SrBi2Nb2O9薄膜 非线性光学 Z-扫描技术
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