深亚微米工艺下IC的EMC问题及其测量  

作　　者：潘松 李逍波 

机构地区：[1]上海海尔集成电路公司 上海海尔集成电路公司

出　　处：《电子产品世界》2004年第2期106-108,共3页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：引言 产品的内在质量要靠每一层组件的EMC性能保证,在解决技术上应关注和克服产生EMC问题的原因.

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]