电阻层析成像技术的发展  

The Development of Electrical Resistance Tomography

作　　者：董峰[1] 崔晓会[1] 

机构地区：[1]天津大学电气与自动化工程学院,天津300072

出　　处：《仪器仪表学报》2003年第z2期703-705,712,共4页Chinese Journal of Scientific Instrument

基　　金：国家自然科学基金(50276043)

摘　　要：电阻层析成像(Electrical Resistance Tomography简称ERT)技术,作为一种新兴测量技术,受到越来越多领域的重视。本文主要介绍了该技术的发展历程,然后在综合软、硬件发展以及应用现状基础上,指出了E RT技术在发展中急需解决的问题。As a new measurement technology, electrical resistance tomography is being put more and more high values. This paper introduces the development of ERT and points out the key problems that must be solved in the development of ERT after considering the development of soft and hard ware as well as its application

关 键 词：电阻层析成像 发展 

分 类 号：TP2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]