半导体激光器特性自动测量系统  

作　　者：薛林[1] 赵华凤[1] 李照[1] 黄山[1] 袁晓彬[1] 

机构地区：[1]清华大学电子工程系,北京100084

出　　处：《工业计量》2001年第S1期199-200,共2页Industrial Metrology

摘　　要：随着激光技术的广泛应用 ,尤其是光通信的迅猛发展 ,半导体激光器在工业和科研领域发挥着越来越大的作用 ,因此半导体激光器特性的自动测量具有非常重要的实用意义。文章介绍了一种计算机控制的半导体激光器参数采集和计算系统 ,能够自动完成半导体激光器的功率电流曲线、电压电流曲线、激光阈值、外量子效率的测量工作。其主要优点在于 :测量时间短、精度高 ,该系统适合用于大批量生产和使用半导体激光器的单位应用。

关 键 词：半导体激光器 半导体激光器测量 外量子效率 激光阈值 

分 类 号：TN248[电子电信—物理电子学]