氟石粉末直接压片法X荧光分析研究  被引量:6

STUDY OF XRF OF FLUORSPAR WTTHPOWDER SAMPLE DIRECTLY PRESSED INTO PIECE

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作  者:苗国玉[1] 董中华[1] 王学云[1] 

机构地区:[1]安阳钢铁集团有限公司

出  处:《河南冶金》2001年第1期22-23,共2页Henan Metallurgy

摘  要:采用粉末直接压片法,通过基体校正等手段,建立了氟石X射线荧光分析方法,该方法快速、准确、成本低。With powder sample being pressed into piece,a method for XRFA of fluorspar has been established on the basis of matrix corrections. The method proved to be rapid accurate and cheap.

关 键 词:氟石 粉末压块 X荧光 

分 类 号:TF702[冶金工程—钢铁冶金]

 

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