光栅投影三维测量的原理及关键技术分析  

Principles of 3-D Profilometry Measurement using Grating Projection and Key Technique Analysis

作　　者：牛小兵[1] 林玉池[1] 赵美蓉[1] 洪昕[1] 程冬梅[1] 

机构地区：[1]天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072

出　　处：《仪器仪表学报》2001年第z1期203-205,共3页Chinese Journal of Scientific Instrument

基　　金：教育部科学技术研究重点项目 (991 4 0 )

摘　　要：针对光栅投影三维测量技术的原理进行了综述 ,并就国内外的发展和应用状况 ,对测量中的关键技术 ,如相位测量、解相位、面形连续性、数据配准和拼接等进行了分析 。The principles of 3 D profilometry measurement using grating projection are reviewed.On the basis of current development and application status,some key techniques,such as phase demodulation,phase unwrapping,physical discontinuities,data registration and connection,are discussed,which prove the method's advantages.

关 键 词：光栅投影 三维面形测量 相位测量 配准拼接 

分 类 号：TH74[机械工程—光学工程]