一种新的测量半球全波发射率的动态技术  

A new dynamic technique for measurement of hemispherical total emittance

作　　者：崔志尚[1] 盛健[1] 

机构地区：[1]中国计量学院,浙江杭州310034

出　　处：《中国计量学院学报》2001年第3期43-46,共4页Journal of China Jiliang University

摘　　要：本章介绍了一种用于半球全波发射率测量的动态技术 .它需要已知热容量和热传导率的准确的资料 .对在自然冷却过程中所测量的样品的温度分布的分析表明 ,高温度梯度区域 (样品的两端部分 )是测量热传导率的最好区域 ,而低温度梯度区域 (样品的中间部分 )是测量半球全波发射率的最佳范围 .讨论了这种新的测量方法及一些初步的实验结果 .A new dynamic technique for the measurement of Hemispherical Total Emittance is described in the present paper.It requires accurate information of heat capacity and of thermal conductivity.An analysis of the temperature profiles measured during the free cooling indicates that regions with high\|temperature gradients (the ends of the specimen)are the best regions for thermal conductivity measurements,while regions with low\|temperature gradients(at the center of the specimen) are the optimum regions for hemispherical total emittance determinations.The new measurement method is discussed.

关 键 词：动态测量 半球全波发射率 扫描高温计 温度分布 

分 类 号：TB942[一般工业技术—计量学]