检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《红外与激光工程》2008年第S2期795-,共1页Infrared and Laser Engineering
摘 要:用户越来越重视装备在复杂环境中的使用效能,而探测性能是红外成像系统使用效能的关键因素,因此复杂环境中系统的探测性能备受关注。以往不同应用的红外成像系统,无论是以阈值辐照度还是噪声等效温差衡量,其探测性能在测试时都只简单认为背景辐射是均匀的。这种情况与实际使用环境差别较大,测得的结果比较理想,对用户缺乏指导意义,用户难以认同。如何改进、完善测试评估体系获取与使用环境相关的探测性能,并以此指导用户使用已受多方关注,文章就此进行探讨。红外成像系统探测性能主要受背景红外辐射和传输路径两方面环境特性影响。传输路径研究相对成熟,目标及背景在传输中皆受到衰减,不同大气条件、不同波段衰减不同,可以利用一些商业软件进行分析计算;背景辐射对探测性能影响很大,但此影响研究不够系统、深入,无法对探测性能评估提供有力支持。文中针对复杂环境中的探测性能评估进行了分析,提出了评估的技术途径以及相关工作的需求。
分 类 号:TN215[电子电信—物理电子学]
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