壳聚糖溶致液晶临界浓度的脱乙酰度依赖性  

作　　者：董炎明[1] 许聪义[1] 汪剑炜[1] 王勉[1] 阮永红[1] 

机构地区：[1]厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室，厦门，361005 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室，厦门，361005 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室，厦门，361005 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室，厦门，361005 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室，厦门，361005

出　　处：《厦门大学学报（自然科学版）》2000年第z1期90-91,共2页Journal of Xiamen University：Natural Science

基　　金：国家自然科学基金(29974023)和福建省自然科学基金(z9910006)资助项目

摘　　要：　　壳聚糖是甲壳素的脱乙酰化产物。从另一个角度，甲壳素也可以看成壳聚糖的乙酰化产物。脱乙酰度(DD)或乙酰度(DA)是壳聚糖的重要结构指标，也是影响其溶致液晶性的重要因素之一。Terboievich等[1]比较了DD=58％和85％两种壳聚糖的构象持续长度，发现差别很小。胡钟鸣等[2]研究了DD=71～89％壳聚糖在二氯乙酸的临界浓度，结果都是10～11wt％。这些研究的DA范围都较有限。本文通过制备100％脱乙酰的壳聚糖，再用乙酸酐在室温反应，通过控制摩尔比和反应时间制取了DD=1～100％的十个壳聚糖样品，从而得以研究几乎全DD范围的壳聚糖的液晶临界行为。 　　DD通过元素分析测定，结果与红外光谱的吸光度比A1560/A2880相联系(见图1)。图1 可用作FTIR法测定壳聚糖脱乙酰度的工作曲线。……

分 类 号：N55[自然科学总论]