新型氧离子导体稳定氧化铋的中子衍射  

Neutron Diffraction Study of New Stabilized δ-Bi2O3 Oxide Ion Conductors

作　　者：李际周[1] 杨继廉[1] 刘蕴韬[1] 肖红文[1] N.Jiang H.Luo 

机构地区：[1]中国原子能科学研究院核物理研究所,北京102413 [2]StanfordResearchInstituteInternational [3]MissouriUniversityResearchReactor

出　　处：《原子能科学技术》2000年第z1期5-7,共3页Atomic Energy Science and Technology

基　　金：国家自然科学基金资助项目 !(19835 0 5 0 )

摘　　要：新型氧离子导体稳定氧化铋 (Dy2 O3) 0 .15-x(WO3) x(Bi2 O3) 0 85样品具有很高的电导率 ,当x=0 .7时 ,样品在 650℃经过 12 0 0h老化仍不发生相变。用中子衍射技术研究其结构 ,发现氧离子在 32f晶位占位数随着x的变化有一极大值 ,这时晶体结构趋向于氧离子由 8c晶位向 32f晶位移动。由于这时的 2 4e 32f键长最短 ,结构极其稳定。Neutron diffraction is performed on samples of the new stabilized bismuth oxide(Dy2O3)0.15-x(WO3)x(Bi2O3)0.85,which possess very high oxygen ionic conductivities.One of samples(x=0.7) is annealed at 650 ℃ for 1200 h without structural change.Results show that for DWBO samples the occupation number of 32f sites increases to a maximum and the length of 24e-32f ionic bond decreases to a minimum with the change of x.It seems to be the reason of structural stability for DWBO(x=0.7) sample.

关 键 词：氧离子导体 稳定氧化铋 中子衍射 

分 类 号：TL[核科学技术]