集成电路电磁兼容测试技术概述  

作　　者：王嫒媛[1] 许琼[1] 童军[1] 

机构地区：[1]西安科技大学电气与控制工程学院,陕西西安710054

出　　处：《硅谷》2008年第19期34-34,65,共2页

摘　　要：随着电子工业的发展,集成电路的功能要求日趋多样化,内部结构日趋复杂化,越来越多的功能,甚至是一个完整的片上系统都能够被集成到单个芯片之中,包含模拟、数字等多种形式的工作电路于一体。这种发展趋势使得芯片级的电磁兼容问题显得尤为突出。主要介绍集成电路电磁发射测量技术的发展状况。

关 键 词：集成电路 电磁兼容 测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]