数字电路测试的故障诊断和测试码生成  

作　　者：沈茜[1] 

机构地区：[1]青海大学水电系,青海西宁810016

出　　处：《科技资讯》2007年第34期39-40,共2页Science & Technology Information

摘　　要：随着数字电路的广泛应用,电路的测试与故障诊断已成为设计与生产过程中重要的组成部分。本文讨论了电路的测试方法、故障模型和利用通路敏化法导出测试码等问题,需要在数字电路安装之前对元件进行逻辑功能测试,从而避免因器件功能不正常而增加测试的困难。

关 键 词：数字电路测试 故障诊断 测试码 故障模型 通路敏化法 

分 类 号：TP331[自动化与计算机技术—计算机系统结构]