电感耦合等离子体质谱法测定钼精矿中的砷锡磷铜铅钙钨铋  

Analysis of the SiO2 Density Determination in the Air Dust of Workplace

作　　者：姜玉梅[1] 刘燕[1] 熊朝东[1] 周庆华[1] 沈文馨[1] 

机构地区：[1]江西省分析测试中心,南昌330029

出　　处：《现代测量与实验室管理》2007年第1期17-,33,共2页

摘　　要：采用电感耦合等离子体质谱(简称ICP-MS)法测定钼精矿中的杂质元素砷、锡、磷铜、铅、钙、钨、铋.讨论了钼基体的谱线干扰,比较了钼基体产生的多原子离子的干扰程度,利用In、Cs双内标校正系统有效地抑制了分析信号的动态漂移.建立了测定钼精矿中的As、Sn、P、Ca、W、Bi、Cu、Pb等8个元素的ICP-MS方法,与国标方法对照分析结果令人满意,RSD为0.5%～3.1%.

关 键 词：电感耦合等离子体质谱 钼精矿 杂质元素 

分 类 号：O657.63[理学—分析化学]