反走样技术及其应用  

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作  者:袁芬[1] 

机构地区:[1]浙江长征职业技术学院计算机学院

出  处:《科技资讯》2007年第13期208-209,共2页Science & Technology Information

摘  要:反走样技术是提高光栅图形显示质量的重要技术之一。研究如何消除或减缓走样现象,给人视觉上产生更舒适光滑的图形,在图形界面已成为人机交互主流方式的今天,具有一定的应用价值。在查阅了大量文献资料的基础上,论文从现有的反走样技术(如普通区域取样、普通过取样、加权过取样)入手,对反走样的理论基础和实现技术进行了分析研究,本文重点对直线段反走样进行了研究和改进。

关 键 词:反走样 区域取样 过取样 

分 类 号:TN919.81[电子电信—通信与信息系统]

 

参考文献:

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