碳纳米管的微操纵  

Micro/Nanomanipulation of Carbon Nanotubes

作　　者：孙志[1] 秦水介[1] 

机构地区：[1]贵州大学光电子技术及应用重点实验室,贵阳550025

出　　处：《微细加工技术》2006年第3期22-26,共5页Microfabrication Technology

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50375031);教育部优秀青年教师资助计划(2003年);春晖计划(2003年591号);贵州省科学基金资助项目(30143005);贵州省高层次人才特助经费资助项目

摘　　要：利用原子力显微镜对碳纳米管进行微操纵研究。首先,选择出适合系统使用的基底;然后,在基底上利用原子力显微镜接触模式,成功地对碳纳米管束进行了推动、切割和弯曲等操纵;最后,讨论了影响微操纵的一些系统参数,总结出该系统微操纵的适合参数为:参考点4.0~5.0,扫描频率20 Hz^50 Hz。该研究为微/纳米机械装配技术的发展进行了有益的探索。AFM (atomic force microscope) was used to realize the micro/nanomanipulation of CNTs. First, an appropriate substrate was chosen for this system. Then, CNTs on the substrate were successfully bent, cut and moved by the contact model of AFM. Finally, some parameters of influence the micro/nanomanipulation of CNTs were discussed. The suitable parameters in this system for micro/nanomanipulation are as follows: set point 4.0-5.0; scanning frequency 20 Hz-50 Hz.

关 键 词：原子力显微镜 基底选择 碳纳米管 微/纳米操纵 

分 类 号：O4[理学—物理]