利用透射电镜及同步辐射X光衍射图相研究粉红色及红色金刚石的结构缺陷  

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作  者:苑执中[1] 彭明生[1] 蒙宇飞[1] 

机构地区:[1]中山大学,宝石材料研究所,广州,510275 中山大学,宝石材料研究所,广州,510275 中山大学,宝石材料研究所,广州,510275

出  处:《矿物岩石地球化学通报》2007年第z1期145-146,共2页Bulletin of Mineralogy, Petrology and Geochemistry

基  金:国家自然科学基金资助项目(40502007)

摘  要:  金刚石不仅是最贵重的宝石,而且在工业用途上也是首选的材料.金刚石所存在的缺陷常常也产生了更好的特性.例如:塑性变形可引起金刚石产生粉红色及红色.含有磷离子的合成金刚石可以取代硅作为超级计算机的芯片.在谱学方面研究[1-3]基础上,我们最近又做了透射电子显微镜(TEM)和同步辐射白色X光衍射图相研究,观察粉红色及红色金刚石的微结构及晶体结构缺陷.……

关 键 词:金刚石 结构缺陷 透射电镜 X光衍射 

分 类 号:P59[天文地球—地球化学]

 

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