SiO_2点阵参数精确测量  

Precision measurement of lattice parameters of SiO_2

作　　者：吴万国[1] 陈之荣[1] 黄清明[1] 

机构地区：[1]福州大学,福建福州350002

出　　处：《福建分析测试》2002年第1期1526-1527,共2页Fujian Analysis & Testing

摘　　要：本文介绍了点阵参数精确测量的用途,具体方法,并用实例加以说明。The paper describes the uses of precision measurement of lattice parameters, its methods and make an example for it.

关 键 词：X射线 内标法 点阵参数 

分 类 号：TB9[一般工业技术—计量学]