检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]郑州大学物理工程学院
出 处:《半导体光电》2002年第1期44-47,共4页Semiconductor Optoelectronics
摘 要:利用面阵CCD测量不规则平面物体面积时 ,图像畸变对测量精度影响很大。按照常规方法对图像进行校正后再测量面积 ,则速度太慢。针对面积测量 ,介绍了两种快速校正方法 ,并进行了比较。通过实验 ,证明该方法具有校正速度快。In the area measurement of an object with irregular plane using area array CCD, the precision is greatly influenced by image distortion. The speed may be very slow if the measurement is performed after distortion correction as usual. Two methods for high speed correction are presented for area measurement and the difference between them is discussed. By experiment, it is proved that using these methods, the measurement could be done quickly and accurately.
分 类 号:TN386.5[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.28