单片机自动检测系统的设计  

Design of MCU Automatic Test System

作　　者：王小利[1] 董晓舟[1] 

机构地区：[1]山东大学威海分校信息工程学院,山东威海264209

出　　处：《实验室研究与探索》2010年第4期52-54,共3页Research and Exploration In Laboratory

基　　金：山东大学威海分校科研基金项目(1050432120608)

摘　　要：设计了以复杂可编程逻辑器件(CPLD),为控制核心的检测系统,能实现单片机损坏的自动检测。系统主要由CPLD控制模块、JTAG并口下载模块、串口收发模块和单片机类型转换板组成。CPLD首先自动检测到被测单片机ISP下载完成信号后,开始与单片机进行串行通信,然后分析处理写入与读出单片机的数据是否一致,得出串口通信工作情况。继续再检测单片机GPIO,并同步显示单片机主要功能是否正常工作,由此可直接判别单片机的好坏。与传统的单片机检测技术相比,该系统测试自动化程度高、检测率高和测试速度快。The controllable core of this system,which can automatically detect the problems of MCU,is the complex programmable logic devices(CPLD).This system is composed mainly of the control module of CPLD,the module of parallel download,serial transceiver.First,the automatic system detects the signal when the download of MCU is completed,CPLD communicates with MCU in an asynchronous receiver.After this CPLD analyses the data which was written and then read from MCU,so comes to the conclusion of the working conditio...

关 键 词：单片机 自动测试 复杂可编程逻辑器件 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]