痕量锂同位素的热表面电离质谱高精度测量  

High precision analysis of trace lithium isotope by thermal ionization mass spectrometry

作　　者：汤磊[1] 刘雪梅[1] 龙开明[1] 刘钊[1] 杨天丽[1] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院核物理与化学研究所,绵阳621900

出　　处：《核技术》2010年第5期370-374,共5页Nuclear Techniques

摘　　要：建立了痕量锂同位素的高精度热电离质谱测量技术。通过双带测量、加入磷酸发射剂及采用预烧处理方法等途径,抑制了分馏效应,提高了痕量锂质谱分析的精度。采用浓缩锂同位素标准样品考察了测量效果,对于100ng锂样品,测量相对标准偏差好于0.086%;对于10ng锂样品,相对标准偏差好于0.90%。High precision analysis method of ng lithium by thermal ionization mass spectrometry is developed.By double-filament measurement,phosphine acid ion enhancer and sample pre-baking technique,the precision of trace lithium analysis is improved.For 100 ng lithium isotope standard sample,relative standard deviation is better than 0.086%;for 10 ng lithium isotope standard sample,relative standard deviation is better than 0.90%.

关 键 词：锂 热表面电离质谱 分馏效应 

分 类 号：O614.111[理学—无机化学]