CIAE的182Hf AMS测量中182W的压低因子的测定  

作　　者：李振宇[1] 何明[1] 姜山[1] 董克君[1] 武绍勇[1] 胡豪[1] 郑国文[1] 李恒[2] 窦亮[1] 王晓波[2] 林德雨[2] 谢林波[3] 

机构地区：[1]中国原子能科学研究院核物理研究所 [2]广西大学 [3]厦门大学

出　　处：《中国原子能科学研究院年报》2011年第1期125-125,共1页

摘　　要：在182Hf的AMS测量中182W的压低因子是一个很重要的指标。它被定义为空白样品中的182W/180Hf的值除以AMS测量得到的182W/180Hf的值。为满足一定的测量灵敏度的要求,被测样品中钨含量的上限应该用182W的压低因子预先估计出来。这对于被测样品的化学制备方案的确定是很重要的。研究表明,通过选取适当的靶物质化学形态和离子源的引出离子形式。

分 类 号：TL5[核科学技术—核技术及应用]