光干涉条纹检测中的一种并行迭代相位解缠算法应用研究  

作　　者：王超燕[1] 陈欣扬[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海天文台

出　　处：《中国科学院上海天文台年刊》2012年第1期74-82,共9页Annals Shanghai Astronomical Observatory Chinese Academy of Sciences

基　　金：中国科学院空间科学预先研究项目(第二批)(XDA04070500)

摘　　要：从干涉条纹信息中提取出的相位信号能够用于测量光学合成孔径阵列中各子孔径之间的相对光程差。相位解缠是恢复真实相位的关键步骤。本文借鉴一种并行抗噪解缠算法,提出以差分值的极性变化作为判据进行波形整形,同时结合子孔径相对光程差标校测量过程中的干涉条纹数据,开展预处理和相位解缠,最后获得均方根值约16 nm的解缠精度。

关 键 词：天文光干涉 相对光程差 相位解缠 算法 

分 类 号：TN95[电子电信—信号与信息处理]