计算机在X射线物相分析中的应用  

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作  者:蒋泉喜 

出  处:《高校教育管理》1985年第S1期72-76,共5页Journal of Higher Education Management

摘  要:x射线衍射是研究物质的精细结构的十种工具,这种技术是劳厄在1921年发现了晶体能衍射x射线,并由其衍射的方向揭露出晶体的结构而开始的,起初,x射线衍射系单纯用来测定晶体的结构,但其后则发展了其它用途。至今这种方法不法不但可以用来测定结构,并且还可用来解决像化学分析,应力测量,相平衡的研究,微粒大小的测量,单晶体的取向或多晶聚合体中各种取向总体的测定等各种问题。

关 键 词:X射线 最强线 物相分析 卡片数据 衍射线 计算机 衍射角 D值 衍射指数 实验数据 

分 类 号:G64[文化科学—高等教育学]

 

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