核电仪控设备中可编程逻辑器件静电损伤的失效分析  

Failure Analysis for Programmable Logic Device Damaged by Electro-static Discharge in Nuclear Power Plant I&C Equipment

作　　者：陈博[1] 龙威[1] 马洪杰[1] 

机构地区：[1]北京广利核系统工程有限公司,北京100094

出　　处：《核科学与工程》2012年第S2期212-215,共4页Nuclear Science and Engineering

摘　　要：本文从分析静电导致可编程逻辑器件损坏的失效机理入手,结合工作中的具体案例,阐明了失效分析在硬件问题分析中的重要作用,并给出了对可编程逻辑器件进行失效分析的基本流程。本文从分析静电导致可编程逻辑器件损坏的失效机理入手,结合工作中的具体案例,阐明了失效分析在硬件问题分析中的重要作用,并给出了对可编程逻辑器件进行失效分析的基本流程。

关 键 词：失效分析 静电 可编程逻辑器件 

分 类 号：TL[核科学技术]