两种远场测试场天线方向图测试分析  

Antenna Pattern Measurement and Analysis on Two Far-Field Test Grounds

作　　者：王向阳 于新霞 何洪涛 

机构地区：[1]63880部队 [2]中国一拖铸造有限公司

出　　处：《微波学报》2012年第S3期249-252,共4页Journal of Microwaves

摘　　要：根据天线远场测试理论,结合应用实例,分析了微波暗室和斜天线测试场作为天线远场测试场的适应性。对从微波暗室和斜天线测试场得到的双脊喇叭天线远场方向图及相关数据进行了分析,总结出两种天线测试场对天线远场测试影响的特点和规律,并对实际应用提出了指导性建议。根据天线远场测试理论,结合应用实例,分析了微波暗室和斜天线测试场作为天线远场测试场的适应性。对从微波暗室和斜天线测试场得到的双脊喇叭天线远场方向图及相关数据进行了分析,总结出两种天线测试场对天线远场测试影响的特点和规律,并对实际应用提出了指导性建议。

关 键 词：远场 测试场 测试 天线方向图 

分 类 号：TN820.12[电子电信—信息与通信工程]