行波管电子注测量系统探头的热分析  

Thermal Analysis of Probe of Electron Beam Measurement System for TWT

作　　者：韦宇祥[1,2] 黄明光[1] 刘述清[1,2] 刘濮鲲 郝保良[1,2] 

机构地区：[1]中国科学院电子学研究所,北京100190 [2]中国科学院研究生院,北京100039

出　　处：《微波学报》2012年第S2期385-387,共3页Journal of Microwaves

摘　　要：本文介绍了一台行波管电子注测量分析系统,并且对其中关键的法拉第筒探头进行了热分析。通过理论和仿真计算探头的脉冲以及稳态温度分布。探头只在每个脉冲电子束团轰击期间产生一个较高的脉冲峰值温度,探头的稳态温度较低。通过测试结果表明,探头的稳态温度要比仿真结果高,但是远低于探头损坏的温度,探头适用于测量系统。本文介绍了一台行波管电子注测量分析系统,并且对其中关键的法拉第筒探头进行了热分析。通过理论和仿真计算探头的脉冲以及稳态温度分布。探头只在每个脉冲电子束团轰击期间产生一个较高的脉冲峰值温度,探头的稳态温度较低。通过测试结果表明,探头的稳态温度要比仿真结果高,但是远低于探头损坏的温度,探头适用于测量系统。

关 键 词：电子注分析 法拉第筒探头 热分析 行波管 

分 类 号：TN124[电子电信—物理电子学]